期刊基本信息

期刊名称：IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
期刊级别： Science Citation Index Expanded (SCIE) Scopus (CiteScore)
期刊ISSN：0741-3106
期刊EISSN：N/A
简称：IEEE ELECTR DEVICE L
影响因子：4.5
实时影响因子：截止2025年5月19日：4.433
五年影响因子：4.6
JCI期刊引文指标：1.07
h-index：135
2024-2025自引率：11.10%
期刊官方网站：http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=55
期刊投稿网址：http://mc.manuscriptcentral.com/edl
是否OA开放访问：No
出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版年份：1980

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

Science Citation Index Expanded (SCIE)Scopus (CiteScore)

期刊介绍

IEEE Electron Device Letters publishes original and significant contributions relating to the theory, modeling, design, performance and reliability of electron and ion integrated circuit devices and interconnects, involving insulators, metals, organic materials, micro-plasmas, semiconductors, quantum-effect structures, vacuum devices, and emerging materials with applications in bioelectronics, biomedical electronics, computation, communications, displays, microelectromechanics, imaging, micro-actuators, nanoelectronics, optoelectronics, photovoltaics, power ICs and micro-sensors.

投稿要求

通讯方式：IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
涉及的研究方向：工程技术-工程：电子与电气
出版国家或地区：UNITED STATES
出版语言：English
年文章数：602
PubMed Central (PMC)链接：http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0741-3106%5BISSN%5D
平均录用比例：约25%

CITESCORE

CiteScore SJR SNIP CiteScore排名 7.60 1.150 1.578 学科分区排名百分位大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering Q1 160 / 970 83% 大类：Engineering 小类：Electronic, Optical and Magnetic Materials Q1 58 / 305 81%

WOS期刊JCR分区

WOS分区等级：2区

按JIF指标学科分区	收录子集	JIF分区	JIF排名	JIF百分位
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q2	98/366	73.4%

按JCI指标学科分区	收录子集	JCI分区	JCI排名	JCI百分位
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q1	76/366	79.37%

期刊分区表预警名单

2025年03月发布的2025版：不在预警名单中

2024年02月发布的2024版：不在预警名单中

2023年01月发布的2023版：不在预警名单中

2021年12月发布的2021版：不在预警名单中

2020年12月发布的2020版：不在预警名单中

中科院2025年3月升级版

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ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
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