MAPAN-Journal of Metrology Society of India

期刊基本信息

期刊名称：MAPAN-Journal of Metrology Society of India
期刊级别： Science Citation Index Expanded (SCIE) Scopus (CiteScore)
期刊ISSN：0970-3950
期刊EISSN：0974-9853
简称：MAPAN-J METROL SOC I
影响因子：1.3
实时影响因子：截止2025年5月19日：1.246
五年影响因子：1.1
JCI期刊引文指标：0.25
h-index：13
2024-2025自引率：7.70%
期刊官方网站：期刊官方网站
期刊投稿网址：https://www.editorialmanager.com/jmsi/
是否OA开放访问：No
出版商：Springer India
出版年份：2009

MAPAN-Journal of Metrology Society of India

Science Citation Index Expanded (SCIE)Scopus (CiteScore)

期刊介绍

MAPAN-Journal Metrology Society of India is a quarterly publication. It is exclusively devoted to Metrology (Scientific, Industrial or Legal). It has been fulfilling an important need of Metrologists and particularly of quality practitioners by publishing exclusive articles on scientific, industrial and legal metrology.

The journal publishes research communication or technical articles of current interest in measurement science; original work, tutorial or survey papers in any metrology related area; reviews and analytical studies in metrology; case studies on reliability, uncertainty in measurements; and reports and results of intercomparison and proficiency testing.

期刊语言要求

Language
Presenting your work in a well-structured manuscript and in well-written English gives it its best chance for editors and reviewers to understand it and evaluate it fairly. Many researchers find that getting some independent support helps them present their results in the best possible light.

投稿要求

通讯方式：METROLOGY SOC INDIA, NPL PREMISES, DR K S KRISHNAN MARG, NEW DELHI, INDIA, 110 012
涉及的研究方向：工程技术-物理：应用
出版国家或地区：INDIA
出版语言：English
年文章数：75
PubMed Central (PMC)链接：http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0970-3950%5BISSN%5D
平均录用比例：容易

CITESCORE

CiteScore

SJR

SNIP

CiteScore排名

2.70

0.309

0.691

学科	分区	排名	百分位
大类：Physics and Astronomy 小类：Physics and Astronomy (miscellaneous)	Q2	41 / 87	53%

WOS期刊JCR分区

WOS分区等级：4区

按JIF指标学科分区	收录子集	JIF分区	JIF排名	JIF百分位
学科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION	SCIE	Q4	60/79	24.7%
学科：PHYSICS, APPLIED	SCIE	Q4	152/187	19%

按JCI指标学科分区	收录子集	JCI分区	JCI排名	JCI百分位
学科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION	SCIE	Q4	67/79	15.82%
学科：PHYSICS, APPLIED	SCIE	Q4	154/187	17.91%

期刊分区表预警名单

2025年03月发布的2025版：不在预警名单中

2024年02月发布的2024版：不在预警名单中

2023年01月发布的2023版：不在预警名单中

2021年12月发布的2021版：不在预警名单中

2020年12月发布的2020版：不在预警名单中

中科院2025年3月升级版

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大类学科

小类学科

Top期刊

综述期刊

工程技术 4区

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表	2区3区4区
PHYSICS, APPLIED 物理：应用	3区1区4区

否

中科院2023年12月旧的升级版